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3D-Topographiemessung

Basic Information

Name: 3D-Topographiemessung
Facility: Sintered and Composite Materials

Description

Das optische Messsystem wird für hoch aufgelöste und genaue Profil-,  Topographie- und Rauheitsmessungen eingesetzt. Der Sensor arbeitet nach  dem Prinzip der chromatischen Abstandsmessung. Durch Rastern der Probe werden entsprechend der Vorgabe Linienprofile oder 3-D-Oberflächen gemessen.

Link to Further Details

http://www.ifam.fraunhofer.de/de/Dresden/technologien/instrumentelle_analytik.html

Points of Contact

Dr.-Ing. Thomas Weißgärber (Head of Department)
Phone:
+49 351 2537-305
Fax:
+49 351 2537-399

Notes

This is a service within the Dresden Fraunhofer Cluster Nanoanalysis (DFCNA).

Associated Instruments

Name Preview Actions
Surface Metrology Tool / Oberflächenmessgerät

Last Update

Last updated at: 13 July 2017 at 11:54:16